膜厚儀做為一種測(cè)量物體厚度的儀器，在很多的行業(yè)領(lǐng)域都得到了廣泛的應(yīng)用，尤其是涂層測(cè)厚儀，擁有測(cè)量精度高，利用探頭接觸測(cè)量方式的優(yōu)點(diǎn)。
臺(tái)式的熒光
X射線膜厚儀，是通過(guò)一次X射線穿透金屬元素樣品時(shí)產(chǎn)生低能量的光子，俗稱(chēng)為二次熒光，在通過(guò)計(jì)算二次熒光的能量來(lái)計(jì)算厚度值。
X-射線膜厚儀的使用注意事項(xiàng)：
1.零點(diǎn)校準(zhǔn)
在每次使用膜厚儀之前需要進(jìn)行光學(xué)校準(zhǔn)，因?yàn)橹暗臏y(cè)量參數(shù)會(huì)影響該次對(duì)物體的測(cè)量，零點(diǎn)校準(zhǔn)可以消除前次測(cè)量有參數(shù)的影響，能夠降低測(cè)量的結(jié)果的誤差，使測(cè)量結(jié)果更加準(zhǔn)確。
2.基體厚度不宜過(guò)薄
在使用膜厚儀對(duì)物體進(jìn)行測(cè)量時(shí)基體不宜過(guò)薄，否則會(huì)大程度的影響儀器的測(cè)量精度，造成數(shù)據(jù)結(jié)果不準(zhǔn)確，影響測(cè)量過(guò)程的正常進(jìn)行。
3.物體表面粗糙程度
對(duì)于被測(cè)物體的表面不宜太過(guò)粗糙，因?yàn)榇植诘谋砻嫒菀滓鹛筋^接觸不到，降低了涂層測(cè)厚儀的測(cè)量精度，造成很大的誤差。所以被測(cè)物體的表面應(yīng)該盡量保持光滑，以保證測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性。
X-射線膜厚儀不測(cè)量這樣辦：
檢查探頭是否連接良好，插到位 查看探頭插頭插針情況。
檢查探頭線是否有斷的地方重點(diǎn)檢查探頭接插件處(接頭處可以旋鈕擰開(kāi)查看)。
探頭頻繁大量使用，傳感器老化或損壞等。
其它主機(jī)線路元件故障咨詢(xún)公司售后服務(wù)或返廠檢修。
